Dwie technologie tensometryczne HBM

Aby możliwa była dokładna ocena wytrzymałości mechanicznej i trwałości zmęczeniowych elementów, które są wykorzystywane w różnego rodzaju maszynach, pojazdach i budynkach, konieczne jest przeprowadzenie obliczeń materiałowych. W tym celu potrzebne jest zrozumienia obciążenia materiału, zarówno w warunkach statycznych, jak i eksploatacyjnych. Czujnik tensometryczny wykorzystywany do mechanicznych pomiarów odkształceń może być wykonany w różnych technologiach. Podstawową zasadą jest jednak prawo Hooke'a, który dotyczy proporcjonalnego związku między odkształceniem a naprężeniem.

Technologie tensometryczne dostępne w HBM

Tensometry muszą zostać zainstalowane na powierzchni mierzonego elementu lub zintegrowanie z nim. Dzięki temu możliwe będzie pozyskanie wartości odkształceń mechanicznych, bez względu na metodologię pomiaru. Jakie technologie tensometryczne są dostępne w HBM?

• Technologia tensometrów oporowych - wykorzystuje elektryczny czujnik tensometryczny. W tym przypadku pomiar względnej zmiany jego rezystancji pozwala na uzyskanie wartości odkształceń. Tego typu tensometry znajdują zastosowanie podczas eksperymentalnej analizy naprężeń oraz w trakcie produkcji przetworników. Co istotne, występują w ponad 2000 różnych odmianach, dopasowanych do różnych wymagań pomiarowych.
• Technologia tensometru optycznego - w tym przypadku wykorzystywany jest światłowód i właściwości światła, które się w nim przemieszczają. Dzięki temu możliwe jest zarejestrowanie odkształcenia w sposób nieelektryczny.

Co jeszcze warto wiedzieć o obu technologiach? Pierwsza z nich, stosowana podczas produkcji przetworników, pozwala na zmierzenie odkształcenia za pomocą tensometru foliowego, który jest zintegrowany z przetwornikiem wagi lub siły i ulega odkształceniu mechanicznemu. Czujnik tensometryczny bazujący na drugiej technologii wykorzystuje krzemionkowe światłowody z powłokami polimerowymi, wyróżniającymi się wysoką wytrzymałością i nadrukowanymi wewnątrz siatkami Bragga. To z kolei pozwala na monitorowania zmian w odbitych widmach światła.